|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Accurate lattice-parameter determination from electron diffraction tomography data using two-dimensional diffraction vectors |
| Auteur: |
Ångström, Jonas Chen, Hong Wan, Wei |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 51 (2018) nr. 4 pagina's 982-989 |
| Jaar: |
2018-08-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 33 gevonden artikelen
| volgende >> |