|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Calibrating SANS data for instrument geometry and pixel sensitivity effects: access to an extended Q range |
| Auteur: |
Karge, Lukas Gilles, Ralph Busch, Sebastian |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 50 (2017) nr. 5 pagina's 1382-1394 |
| Jaar: |
2017-00-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |