|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of AIIIBV superlattices by means of synchrotron diffraction topography and high-resolution X-ray diffraction |
| Auteur: |
Wierzchowski, Wojciech Wieteska, Krzysztof Gaca, Jarosław Wójcik, Marek Możdżonek, Małgorzata Strupiński, Włodzimierz Wesołowski, Marek Paulmann, Carsten |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 50 (2017) nr. 4 pagina's 1192-1199 |
| Jaar: |
2017-08-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |