|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 42 van 43 gevonden artikelen
| Titel: |
Twin domain imaging in topological insulator Bi2Te3 and Bi2Se3 epitaxial thin films by scanning X-ray nanobeam microscopy and electron backscatter diffraction |
| Auteur: |
Kriegner, Dominik Harcuba, Petr Veselý, Jozef Lesnik, Andreas Bauer, Guenther Springholz, Gunther Holý, Václav |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 50 (2017) nr. 2 pagina's 369-377 |
| Jaar: |
2017-04-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 42 van 43 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |