|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
Nanoscale stability of two- and three-dimensional defects in Cu/Ag–Mo thin films |
| Auteur: |
Csiszár, G. Makvandi, A. Mittemeijer, E. J. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 50 (2017) nr. 1 pagina's 152-171 |
| Jaar: |
2017-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |