|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 52 gevonden artikelen
| Titel: |
Averaging the intensity of many-layered structures for accurate stacking-fault analysis using Rietveld refinement |
| Auteur: |
Coelho, Alan A. Evans, John S. O. Lewis, James W. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 49 (2016) nr. 5 pagina's 1740-1749 |
| Jaar: |
2016-00-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 52 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |