|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
An approach to solving an ill posed inverse problem of residual stress depth profiling in thin films and compact solid materials |
| Auteur: |
Tolstikhin, Konstantin Scholtes, Berthold |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 49 (2016) nr. 4 pagina's 1141-1147 |
| Jaar: |
2016-08-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |