|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of the cationic distribution in oxidic thin films by resonant X-ray diffraction: the magnetoelectric compound Ga2−xFexO3 |
| Auteur: |
Lefevre, Christophe Thomasson, Alexandre Roulland, Francois Favre-Nicolin, Vincent Joly, Yves Wakabayashi, Yusuke Versini, Gilles Barre, Sophie Leuvrey, Cedric Demchenko, Anna Boudet, Nathalie Viart, Nathalie |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 49 (2016) nr. 4 pagina's 1308-1314 |
| Jaar: |
2016-08-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |