|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 23 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
Modeling truncated pixel values of faint reflections in MicroED images |
| Auteur: |
Hattne, Johan Shi, Dan de la Cruz, M. Jason Reyes, Francis E. Gonen, Tamir |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 49 (2016) nr. 3 pagina's 1029-1034 |
| Jaar: |
2016-06-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 23 van 46 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |