|
Hybrid reciprocal lattice: application to layer stress determination in GaAlN/GaN(0001) systems with patterned substrates |
|
|
|
Titel: |
Hybrid reciprocal lattice: application to layer stress determination in GaAlN/GaN(0001) systems with patterned substrates |
Auteur: |
Domagała, Jarosław Z. Morelhão, Sérgio L. Sarzyński, Marcin Maździarz, Marcin Dłużewski, Paweł Leszczyński, Michał |
Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
Paginering: |
Jaargang 49 (2016) nr. 3 pagina's 798-805 |
Jaar: |
2016-06-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|