|
Microstrain distributions in polycrystalline thin films measured by X-ray microdiffraction |
|
|
|
Titel: |
Microstrain distributions in polycrystalline thin films measured by X-ray microdiffraction |
Auteur: |
Schäfer, N. Chahine, G. A. Wilkinson, A. J. Schmid, T. Rissom, T. Schülli, T. U. Abou-Ras, D. |
Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
Paginering: |
Jaargang 49 (2016) nr. 2 pagina's 632-635 |
Jaar: |
2016-04-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|