|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 52 gevonden artikelen
| Titel: |
Element-specific structural analysis of Si/B4C using resonant X-ray reflectivity. Corrigendum |
| Auteur: |
Nayak, Maheswar Pradhan, P. C. Lodha, G. S. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 49 (2016) nr. 2 pagina's 715-716 |
| Jaar: |
2016-04-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 52 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |