|
Detection of an ordered-structure fraction in amorphous silicon |
|
|
|
Titel: |
Detection of an ordered-structure fraction in amorphous silicon |
Auteur: |
Wang, Xiao-Dong Chen, Bo Wang, Hai-Feng Zheng, Xin Liu, Shi-Jie Wang, Jun-Bo Li, Bo Yu, Shan-Meng Cui, Zhong-Xu |
Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
Paginering: |
Jaargang 49 (2016) nr. 2 pagina's 528-532 |
Jaar: |
2016-04-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|