|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 28 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Probing the absolute scattering intensity by means of a laboratory-based small-angle X-ray scattering camera using an imaging plate detector |
| Auteur: |
Gutsche, Alexander Dingenouts, Nico Guo, Xiaoai Meier, Manuel Nirschl, Hermann |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 49 (2016) nr. 1 pagina's 15-23 |
| Jaar: |
2016-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 28 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |