|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 37 van 43 gevonden artikelen
| Titel: |
Sub-micrometre depth-gradient measurements of phase, strain and texture in polycrystalline thin films: a nano-pencil beam diffraction approach |
| Auteur: |
Vaxelaire, Nicolas Gergaud, Patrice Vaughan, Gavin B. M. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 47 (2014) nr. 2 pagina's 495-504 |
| Jaar: |
2014-04-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 37 van 43 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |