|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 51 van 62 gevonden artikelen
| Titel: |
Simultaneous diffuse reflection infrared spectroscopy and X-ray pair distribution function measurements |
| Auteur: |
Beyer, Kevin A. Zhao, Haiyan Borkiewicz, Olaf J. Newton, Mark A. Chupas, Peter J. Chapman, Karena W. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 47 (2014) nr. 1 pagina's 95-101 |
| Jaar: |
2014-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 51 van 62 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |