|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 31 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
Three-dimensional reciprocal space mapping of diffuse scattering for the study of stacking faults in semipolar () GaN layers grown from the sidewall of an r-patterned sapphire substrate |
| Auteur: |
Lazarev, Sergey Bauer, Sondes Meisch, Tobias Bauer, Martin Tischer, Ingo Barchuk, Mykhailo Thonke, Klaus Holy, Vaclav Scholz, Ferdinand Baumbach, Tilo |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 46 (2013) nr. 5 pagina's 1425-1433 |
| Jaar: |
2013-00-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 31 van 37 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |