|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 26 van 36 gevonden artikelen
| Titel: |
Sin2ψ-based residual stress gradient analysis by energy-dispersive synchrotron diffraction constrained by small gauge volumes. I. Theoretical concept |
| Auteur: |
Meixner, M. Klaus, M. Genzel, Ch. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 46 (2013) nr. 3 pagina's 610-618 |
| Jaar: |
2013-06-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 26 van 36 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |