|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
Comprehensive synchrotron grazing-incidence X-ray scattering analysis of nanostructures in porous polymethylsilsesquioxane dielectric thin films |
| Auteur: |
Rho, Yecheol Ahn, Byungcheol Yoon, Jinhwan Ree, Moonhor |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 46 (2013) nr. 2 pagina's 466-475 |
| Jaar: |
2013-04-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |