|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 32 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Validating classical line profile analyses using microbeam diffraction from individual dislocation cell walls and cell interiors |
| Auteur: |
Levine, Lyle E. Geantil, Peter Larson, Bennett C. Tischler, Jonathan Z. Kassner, Michael E. Liu, Wenjun |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 45 (2012) nr. 2 pagina's 157-165 |
| Jaar: |
2012-04-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 32 van 32 gevonden artikelen
| << vorige |