|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 29 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Structural polytypism and residual strain in GaAs nanowires grown on Si(111) probed by single-nanowire X-ray diffraction |
| Auteur: |
Biermanns, Andreas Breuer, Steffen Davydok, Anton Geelhaar, Lutz Pietsch, Ullrich |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 45 (2012) nr. 2 pagina's 239-244 |
| Jaar: |
2012-04-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 29 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |