|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Precision of lattice strain and orientation measurements using high-energy monochromatic X-ray diffraction |
| Auteur: |
Edmiston, John K. Barton, Nathan R. Bernier, Joel V. Johnson, George C. Steigmann, David J. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 44 (2011) nr. 2 pagina's 299-312 |
| Jaar: |
2011-04-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |