|
The XIPHOS diffraction facility for extreme sample conditions |
|
|
|
Titel: |
The XIPHOS diffraction facility for extreme sample conditions |
Auteur: |
Probert, Michael R. Robertson, Craig M. Coome, Jonathan A. Howard, Judith A. K. Michell, Brian C. Goeta, Andrés E. |
Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
Paginering: |
Jaargang 43 (2010) nr. 6 pagina's 1415-1418 |
Jaar: |
2010-02-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|