|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
A simple method for analyzing peak broadening due to tilt and twist distributions in X-ray diffraction measurements of materials of arbitrary type |
| Auteur: |
Nakashima, Kiichi Matsuoka, Takashi |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 41 (2008) nr. 1 pagina's 191-197 |
| Jaar: |
2008-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |