|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 27 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray bright-field imaging analyzes crystalline quality and defects of SiC wafers |
| Auteur: |
Yi, J. M. Chu, Y. S. Zhong, Y. Je, J. H. Hwu, Y. Margaritondo, G. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 40 (2007) nr. 2 pagina's 376-378 |
| Jaar: |
2007-04-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 27 van 27 gevonden artikelen
| << vorige |