|
Rapid determination of stress factors and absolute residual stresses in thin films |
|
|
|
Titel: |
Rapid determination of stress factors and absolute residual stresses in thin films |
Auteur: |
Eiper, E. Martinschitz, K. J. Massl, S. Köstenbauer, H. Daniel, R. Fontalvo, G. Mitterer, C. Keckes, J. |
Verschenen in: |
Applied crystallography online |
Paginering: |
Jaargang 39 (2006) nr. 6 pagina's 777-783 |
Jaar: |
2006-02-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|