|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
SVDdiagnostic, a program to diagnose numerical conditioning of Rietveld refinements |
| Auteur: |
Mercier, Patrick H. J. Le Page, Yvon Whitfield, Pamela S. Mitchell, Lyndon D. |
| Verschenen in: |
Applied crystallography online |
| Paginering: | Jaargang 39 (2006) nr. 3 pagina's 458-465 |
| Jaar: |
2006-06-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |