|
Glancing-incidence X-ray diffraction for depth profiling of polycrystalline layers |
|
|
|
Titel: |
Glancing-incidence X-ray diffraction for depth profiling of polycrystalline layers |
Auteur: |
Zanola, Paolo Colombi, Paolo Bontempi, Elza Gelfi, Marcello Roberti, Roberto Depero, Laura E. |
Verschenen in: |
Applied crystallography online |
Paginering: |
Jaargang 39 (2006) nr. 2 pagina's 176-179 |
Jaar: |
2006-04-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|