|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
Stress analysis of polycrystalline thin films and surface regions by X-ray diffraction |
| Auteur: |
Ligot, J. Welzel, U. Lamparter, P. Vermeulen, A. C. Mittemeijer, E. J. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 38 (2005) nr. 1 pagina's 1-29 |
| Jaar: |
2005-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |