|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
Quantitative microstructural and texture characterization by X-ray diffraction of polycrystalline ferroelectric thin films |
| Auteur: |
Ricote, Jesús Chateigner, Daniel |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 37 (2004) nr. 1 pagina's 91-95 |
| Jaar: |
2004-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |