|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
A new method for the determination of strain profiles in epitaxic thin films using X-ray diffraction |
| Auteur: |
Boulle, A. Masson, O. Guinebretière, R. Dauger, A. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 36 (2003) nr. 6 pagina's 1424-1431 |
| Jaar: |
2003-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |