|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 84 van 106 gevonden artikelen
| Titel: |
Small-angle X-ray scattering studies on oxide layer thickness at the porous silicon interface |
| Auteur: |
Björkqvist, M. Salonen, J. Laine, E. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 36 (2003) nr. 3-1 pagina's 740-743 |
| Jaar: |
2003-06-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 84 van 106 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |