|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
FULLPAT: a full-pattern quantitative analysis program for X-ray powder diffraction using measured and calculated patterns |
| Auteur: |
Chipera, Steve J. Bish, David L. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 35 (2002) nr. 6 pagina's 744-749 |
| Jaar: |
2002-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |