|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 23 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Transmission electron microscopy and diffractometry of materials. By B. Fultz and J. M. Howe. pp. xix + 748pp. Heidelberg: Springer-Verlag, 2001. Price DM 179.00, US $89.95. ISBN 3-540-67841-7. |
| Auteur: |
Dorset, Douglas L. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 35 (2002) nr. 1 pagina's 145-146 |
| Jaar: |
2002-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 23 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |