|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of subtle strain modifications in heterostructures by using X-ray mapping in reciprocal space |
| Auteur: |
Shilo, D. Lakin, E. Zolotoyabko, E. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 34 (2001) nr. 6 pagina's 715-721 |
| Jaar: |
2001-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |