|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Rietveld texture analysis of Dabie Shan eclogite from TOF neutron diffraction spectra |
| Auteur: |
Wenk, H.-R. Cont, L. Xie, Y. Lutterotti, L. Ratschbacher, L. Richardson, J. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 34 (2001) nr. 4 pagina's 442-453 |
| Jaar: |
2001-08-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |