|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
Corrections for surface X-ray diffraction measurements using the Z-axis geometry: finite size effects in direct and reciprocal space |
| Auteur: |
Robach, O. Garreau, Y. Aïd, K. Véron-Jolliot, M. B. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 33 (2000) nr. 4 pagina's 1006-1018 |
| Jaar: |
2000-08-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |