|
Grazing incidence small-angle X-ray scattering from laterally ordered triangular pyramidal Ge islands on Si(111) |
|
|
|
Titel: |
Grazing incidence small-angle X-ray scattering from laterally ordered triangular pyramidal Ge islands on Si(111) |
Auteur: |
Paniago, R. Metzger, H. Rauscher, M. Kovats, Z. Peisl, J. Schulze, J. Eisele, I. Ferrer, S. |
Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
Paginering: |
Jaargang 33 (2000) nr. 3-1 pagina's 433-436 |
Jaar: |
2000-06-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|