|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 106 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparison of intensity profile analysis and correlation function methods for studying the lamellar structures of semi-crystalline polymers using small-angle X-ray scattering |
| Auteur: |
Wang, Z.-G. Hsiao, B.S. Murthy, N.S. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 33 (2000) nr. 3-1 pagina's 690-694 |
| Jaar: |
2000-06-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 106 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |