|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
A tool for X-ray diffraction analysis of thin layers on substrates: substrate peak removal method |
| Auteur: |
Kamminga, J.-D. Delhez, R. de Keijser, Th. H. Mittemeijer, E. J. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 33 (2000) nr. 1 pagina's 108-111 |
| Jaar: |
2000-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |