|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Structural properties of p+-type porous silicon layers versus the substrate orientation: an X-ray diffraction comparative study |
| Auteur: |
Faivre, C. Bellet, D. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 32 (1999) nr. 6 pagina's 1134-1144 |
| Jaar: |
1999-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |