|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Fourier modelling of the anisotropic line broadening of X-ray diffraction profiles due to line and plane lattice defects |
| Auteur: |
Scardi, Paolo Leoni, Matteo |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 32 (1999) nr. 4 pagina's 671-682 |
| Jaar: |
1999-08-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |