|
Superscrew dislocation contrast on synchrotron white-beam topographs: an accurate description of the direct dislocation image |
|
|
|
Titel: |
Superscrew dislocation contrast on synchrotron white-beam topographs: an accurate description of the direct dislocation image |
Auteur: |
Huang, X. R. Dudley, M. Vetter, W. M. Huang, W. Si, W. Carter Jr, C. H. |
Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
Paginering: |
Jaargang 32 (1999) nr. 3 pagina's 516-524 |
Jaar: |
1999-06-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|