|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 36 gevonden artikelen
| Titel: |
Defect recognition and image processing in semiconductors 1997, Institute of Physics Conference Series, Number 160. Edited by J. Donecker and I. Rechenberg. Pp. xx + 524. Bristol and Philadelphia: Institute of Physics Publishing, 1998. Price £135, US $270. ISBN 0 7503 0500 2. |
| Auteur: | |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 31 (1998) nr. 6 pagina's 976 |
| Jaar: |
1998-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 36 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |