|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of the Anomalous Scattering Factors in the Soft-X-ray Range using Diffraction from a Multilayer |
| Auteur: |
Sève, L. Tonnerre, J. M. Raoux, D. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 31 (1998) nr. 5 pagina's 700-707 |
| Jaar: |
1998-00-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |