|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
Eigen-System Analysis of X-ray Diffraction Profile Deconvolution Methods Explains Ill-Conditioning |
| Auteur: |
Armstrong, N. Kalceff, W. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 31 (1998) nr. 3 pagina's 453-460 |
| Jaar: |
1998-06-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 37 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |