|
Surface-Induced Parasitic Scattering in Bonse–Hart Double-Crystal Diffractometers |
|
|
|
Titel: |
Surface-Induced Parasitic Scattering in Bonse–Hart Double-Crystal Diffractometers |
Auteur: |
Agamalian, M. Christen, D. K. Drews, A. R. Glinka, C. J. Matsuoka, H. Wignall, G. D. |
Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
Paginering: |
Jaargang 31 (1998) nr. 2 pagina's 235-240 |
Jaar: |
1998-04-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|