|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
In Situ Fixed-Angle X-ray Reflectivity Measurement of Thin-Film Roughness and Thickness during Deposition |
| Auteur: |
Lee, C.-H. Tseng, S.-Y. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 31 (1998) nr. 2 pagina's 181-184 |
| Jaar: |
1998-04-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |