|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 51 van 51 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray Reflectometer for the Diagnostics of Thin Films During Growth |
| Auteur: |
Niggemeier, U. Lischka, K. Plotz, W. M. Holy, V. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 30 (1997) nr. 6 pagina's 905-908 |
| Jaar: |
1997-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 51 van 51 gevonden artikelen
| << vorige |