|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 51 gevonden artikelen
| Titel: |
Growth and Structure of Thin Pt2Si and PtSi Layers on Si(111) and (001) Characterized with In Situ Grazing Incidence Diffraction |
| Auteur: |
Kumpf, C. Nicula, R. Burkel, E. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 30 (1997) nr. 6 pagina's 1016-1021 |
| Jaar: |
1997-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 51 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |